X射线强度关联成像的方法和装置
专利名称:
X射线强度关联成像的方法和装置
英文名称:
专利号:
专利类别:
发明
专利证书号:
申请号:
2018106185334
第一发明人:
何雨航
其它发明人:
张艾昕;陈黎明;吴令安
申请日期:
专利授权日期:
2021-04-27
国外申请日期:
国外申请方式:
缴费情况:
实施情况:
专利摘要:
其它备注: