一种基于一维纳米材料的探测方法
专利名称:
一种基于一维纳米材料的探测方法
英文名称:
专利号:
专利类别:
发明
专利证书号:
申请号:
2018103431892
第一发明人:
杨丰
其它发明人:
周维亚;王艳春;解思深
申请日期:
专利授权日期:
2020-12-18
国外申请日期:
国外申请方式:
缴费情况:
实施情况:
专利摘要:
其它备注: