中红外光的全谱测量方法和相应的装置
专利名称:
中红外光的全谱测量方法和相应的装置
英文名称:
专利号:
专利类别:
发明
专利证书号:
申请号:
2017111555680
第一发明人:
张佳
其它发明人:
朱江瑞;李刚;李运良
申请日期:
专利授权日期:
2020-11-10
国外申请日期:
国外申请方式:
缴费情况:
实施情况:
专利摘要:
其它备注: